红外发射管检测

发布日期：2024-07-17

检测中心提供的

的适用样品包括：直射型红外发射管、反射型红外发射管、医疗仪器红外发射管、空间光通信红外发射管、红外照明红外发射管、电器的遥控红外发射管等。

检测项目：

光电转换效率、结温、热阻、反向电压、反向电流、辐射功率、辐射强度、峰值发射波长、光谱辐射带宽、辐射通量、调制带宽、响应时间、辐射强度空间分布、半强度角、串联电阻、正向电压、总电容、辐射功率温度系数等。

GB/T 18904.1-2002 半导体器件第12-1部分;光电子器件纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的光发射或红外发射二极管空白详细规范

SJ/T 2658.16-2016 半导体红外发射二极管测量方法第16部分:光电转换效率

SJ/T 2658.14-2016 半导体红外发射二极管测量方法第14部分：结温

SJ/T 2658.15-2016 半导体红外发射二极管测量方法第15部分：热阻

SJ/T 2658.3-2015 半导体红外发射二极管测量方法.第3部分:反向电压和反向电流

SJ/T 2658.6-2015 半导体红外发射二极管测量方法第6部分:辐射功率

SJ/T 2658.8-2015 半导体红外发射二极管测量方法第8部分:辐射强度

SJ/T 2658.12-2015 半导体红外发射二极管测量方法第12部分:峰值发射波长和光谱辐射带宽

SJ/T 2658.7-2015 半导体红外发射二极管测量方法第7部分:辐射通量

SJ/T 2658.1-2015 半导体红外发射二极管测量方法第1部分:总则

SJ/T 2658.10-2015 半导体红外发射二极管测量方法第10部分:调制带宽

SJ/T 2658.11-2015 半导体红外发射二极管测量方法第11部分:响应时间

SJ/T 2658.9-2015 半导体红外发射二极管测量方法第9部分:辐射强度空间分布和半强度角

SJ/T 2658.5-2015 半导体红外发射二极管测量方法第5部分:串联电阻

SJ/T 2658.2-2015 半导体红外发射二极管测量方法第2部分:正向电压

SJ/T 2658.4-2015 半导体红外发射二极管测量方法第4部分:总电容

SJ/T 2658.13-2015 半导体红外发射二极管测量方法第13部分:辐射功率温度系数